日前，世界著名學術(shù)出版機構(gòu)Springer Nature出版了我校材料學院蘭睿副教授的英文專著《Thermophysical properties and measuring technique of Ge-Sb-Te alloys for phase change memory》（相變存儲材料Ge-Sb-Te合金的熱物理性能及其測量技術(shù)）。Springer Nature是目前自然科學、工程技術(shù)和醫(yī)學(STM)領(lǐng)域全球最大的圖書和學術(shù)期刊出版社之一，以其嚴謹?shù)膶W術(shù)態(tài)度和嚴格的出版標準聞名于世，超過200位諾貝爾獎、費爾茲獎獲得者選擇Springer發(fā)表其科研成果。

相變存儲器（PCRAM）作為一種新型的非易失性存儲技術(shù)NVM技術(shù)，具有體積可縮性好、讀寫速度快、存儲密度高等優(yōu)點而受到廣泛關(guān)注，同時具有主存和外存的潛力，這可能給未來的存儲體系結(jié)構(gòu)帶來重大變化，被認為是最有前途的NVM技術(shù)之一，可以完全取代DRAM。該書為從事相變存儲材料性能研究、相變存儲器件結(jié)構(gòu)優(yōu)化以及工業(yè)模擬等研究領(lǐng)域的科研人員提供了參考。

蘭睿副教授在東京工業(yè)大學取得博士學位，隨后赴亞琛工業(yè)大學，在國際知名專家Matthias Wuttig教授指導下開展相變存儲材料的博士后研究。2013年入職以來，深入開展相變存儲材料、熱電薄膜材料、高熵合金涂層和半導體材料的研究，并取得成果。該專著的出版也獲得了國家自然科學基金委、江蘇省科技廳和我校“深藍人才工程”等項目的支持。